新型SPECTRO ARCOS 旗舰级ICP-OES光谱仪

新型SPECTRO ARCOS 旗舰级ICP-OES光谱仪

2025年德国斯派克新型SPECTRO ARCOS旗舰级ICP - OES光谱仪,多项技术革新

产品介绍

德国斯派克分析仪器公司 2025年最新一代电感耦合等离子体发射光谱仪

详细说明

新型SPECTRO ARCOS 旗舰级ICP-OES光谱仪

德国斯派克分析仪器公司 2025年最新一代电感耦合等离子体发射光谱仪

产品概述

新型SPECTRO ARCOS是德国斯派克推出的旗舰级电感耦合等离子体发射光谱仪,代表了当前ICP-OES技术的最高水平。它在原有经典型号基础上进行了全面升级,新增了革命性的双侧面观测接口DSOI技术,采用新一代CMOS线阵列检测器,配备最高功率的2000瓦LDMOS固态发生器,将元素分析的灵敏度、精度和基体耐受性提升到了全新高度。

这款仪器以一当二,是市场上唯一同时具备真正轴向观测、真正径向观测和双侧面观测三种模式的等离子体光谱仪。它能够满足从痕量杂质检测到常量元素分析的所有需求,广泛应用于工业生产质量控制和前沿科学研究领域,为全球用户提供准确可靠的元素分析解决方案。

核心技术亮点

1. 革命性双侧面观测DSOI技术

新增的双侧面观测接口DSOI是斯派克的独家专利技术,它在垂直炬管两侧增加了两个光学观测窗口,能够同时获取等离子体不同区域的光谱信号。这项技术不仅大幅提升了检测灵敏度,还彻底解决了传统观测模式下的基体干扰和污染问题,使仪器能够轻松处理各种复杂基体样品。

2. MultiView等离子体观测系统

市场上唯一的多视角等离子体观测系统,无需任何工具,操作人员可在90秒内将垂直炬管切换为水平炬管,反之亦然。一台仪器即可实现真正的轴向观测、真正的径向观测和双侧面观测三种模式,满足不同应用场景的分析需求,无需购买两台独立的仪器。

3. ORCA帕邢-龙格光学系统

采用斯派克专利的ORCA帕邢-龙格光学系统,与传统中阶梯光栅交叉色散系统相比,减少了反射镜的使用,提供更直接、高亮度的光路,光强度信号提升高达5倍。全波长范围覆盖130至770纳米,在180纳米以下的真空紫外区域具有业内最佳的透光度,能够准确检测卤素等特殊元素。

4. 新一代CMOS线阵列检测器

全面升级为新型互补金属氧化物半导体CMOS线阵列检测器,性能远超传统CCD检测器。即使在极端光强下也能完全消除过度曝光效应,仍然可以准确读取痕量元素的微弱信号,不受相邻高强度谱线的影响。动态范围高达9个数量级,无需多次稀释即可同时分析高低含量元素。检测器无需制冷,即使某段阵列出现故障,其他部分仍能正常运行,维护成本大幅降低。

5. 2000瓦高功率LDMOS固态发生器

配备行业最高功率的2000瓦LDMOS固态射频发生器,能量转换效率超过85%,采用风冷设计,完全不需要外部冷却循环水。开机预热时间不到10分钟,输出功率稳定性优于0.1%。高功率设计使仪器能够轻松处理挥发性有机物和高浓度溶解固体样品,具有极佳的基体兼容性。

6. UV-PLUS密闭充氩光路系统

采用专利的UV-PLUS密闭充氩循环光路技术,光室内部永久充入高纯氩气,通过自动净化系统循环过滤,无需持续氩气吹扫或真空系统。开机即可使用,无需等待光路吹扫时间,每年可节省大量氩气费用,同时大幅提高了仪器的长期稳定性。

7. 超高速数据采集系统

配备GigE高速数据读出系统,可在2秒内完成全光谱数据的采集和传输。优化的进样系统和智能阀切换技术,大幅缩短样品切换时间,样品分析通量可达每小时60个以上,能够满足高通量实验室的需求。

技术参数

光学系统采用ORCA帕邢-龙格设计,波长范围覆盖130纳米至770纳米,配备32块线性CMOS阵列检测器,每块阵列3648个像素。最高光学分辨率可达8.5皮米,在130至340纳米波长范围内分辨率为8.5皮米,340纳米以上为16皮米。光学系统采用精密恒温控制,温度稳定在15摄氏度正负0.5摄氏度,确保分析结果的长期稳定性。

激发系统采用2000瓦LDMOS固态射频发生器,工作频率27.12兆赫兹,输出功率500至2000瓦连续可调。进样系统标配高效雾化器和旋流雾室,可选配耐高盐雾化器、超声波雾化器和各种自动进样器。

仪器整体尺寸为高1068毫米、宽1582毫米、深756毫米,重量约240千克。工作温度范围为15至35摄氏度,相对湿度20%至80%,无需特殊的恒温恒湿环境。

元素检测能力

可检测元素周期表中73种金属和非金属元素,包括氯、溴、碘等卤素以及碳、磷、硫等传统方法难以准确检测的元素。检测浓度范围极宽,从亚ppb级的痕量杂质到百分含量级的常量元素都能准确测定。

无需多次稀释样品,一次进样即可同时分析高低含量元素。全谱记录功能允许用户在测量完成后,离线重新计算任何元素的含量,无需重新测量样品。特别适合复杂基体样品的分析,能够有效克服各种基体干扰,提供准确可靠的分析结果。

应用领域

新型SPECTRO ARCOS的应用领域极其广泛,主要包括环境监测、地质矿产勘探、冶金工业、化学化工、食品饮料安全、生物医药、电子半导体制造、石油化工、新能源材料、科研教育以及进出口检验检疫等。

具体应用包括地表水和工业废水中的重金属检测、土壤和沉积物的元素分析、矿石品位测定和选矿过程控制、金属材料的杂质分析、食品中重金属和营养元素检测、药品中元素杂质分析、半导体材料的纯度检测、锂电池原材料和成品的元素分析、催化剂的成分分析等。

产品优势总结

1. 革命性DSOI双侧面观测技术,灵敏度更高,基体干扰更低

2. MultiView多视角系统,一台仪器实现三种观测模式

3. ORCA光学系统,光强度提升5倍,真空紫外区性能最佳

4. 新一代CMOS检测器,无溢出效应,动态范围高达9个数量级

5. 2000瓦高功率LDMOS发生器,风冷设计,无需水冷

6. UV-PLUS密闭光路,无需吹扫,开机即用,氩气消耗低

7. 全波长130-770纳米覆盖,可检测卤素等特殊元素

8. 2秒全谱采集,每小时可处理60个以上样品

9. 全谱记录功能,可离线重新计算结果

10. 德国斯派克原厂品质,全球50多个国家服务支持

产品信息

2025年德国斯派克推出新型SPECTRO ARCOS旗舰级ICP - OES光谱仪。它有DSOI等核心技术,可多模式观测,全波长覆盖,检测元素多,应用广,分析高效准确。

SPECTRO ARCOS ICP - OES光谱仪 德国斯派克 双侧面观测 多视角系统 ORCA光学系统 CMOS检测器 LDMOS发生器 UV - PLUS光路 元素分析

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