导波雷达物位计

导波雷达物位计

CGR8X00系列导波雷达物位计:基于时间行程原理,利用电磁波测距精准测量物位

产品介绍

1.不受压力变化、真空、温度变化、情性气体、烟尘、蒸汽等环境影响,测量结果稳定可靠
2.可以在最高400°C,最大压力40Mpa环境下工作
3.接触测量,无活动部件,可靠性高
支持多种通讯协议,便于集成到客户系统

详细说明

CGR8X00系列导波雷达物位计是基于时间行程原理的电磁波测距系统。仪表探头发出的1GHz的微功率电磁波信号沿着探测组件(探杆或探测缆绳)以光速进行传播。当电磁波接触到被测物质表面时,由于介电常数发生突变,电磁波被反射回来。反射回来的电磁波沿着探测组件传播,并返回到仪表探头。电磁波的发射与接收的时间间隔与仪表探头到被测介质的距离成正比,由此能够计算出仪表探头到被测介质表面的距离。

产品信息

CGR8X00系列导波雷达物位计是基于时间行程原理的电磁波测距系统。它发射1GHz微功率电磁波,沿探测组件传播,遇被测物质表面反射。通过发射与接收的时间间隔,可计算仪表探头到介质表面的距离,实现物位精准测量。

CGR8X00系列 导波雷达物位计 时间行程原理 电磁波测距 微功率电磁波 探测组件 介电常数 反射 时间间隔 物位测量

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