工业CT
蔡司METROTOM1500：第三代CT系统，具备更快扫描、更多洞悉，可测更大工件的无损检测利器
产品介绍
蔡司METROTOM1500高精度CT技术助力产业效益需求
详细说明
蔡司METROTOM1500
第三代计算机断层成像(CT)系统-蔡司METROTOM1500证明了先进可靠的
X射线技术不再是愿景。今天，您可以使用面向未来的无损质量检测技术。
更快的扫描进助探测器的不同操作模式，扫描时间可很大减少，同时获取与2K探测墨相当的体素尺寸。
更多的洞悉在第三代系统中，新的3K探测器可生成更高分辨率的3D体积数据集，即更多体素可检测到更小的缺陷。
2K探测器的体素尺寸(应用样例)79.4 um
3K探测器的体素尺寸(应用样例)57.9 um
METROTOM
由于3K探测器具有更高的分辨率，因此可观察到更小的细节。
更大工件的扫描|为了最大眼度地利用测量实验室的空间，扩大了测量空间范围，同时减少了占用空间。占地面积6.7mP，可测量及检测高达870mm的零部件-市场上系统/部件体积比的良好选择。
产品信息
蔡司METROTOM1500作为第三代计算机断层成像(CT)系统，实现了先进可靠的X射线技术。它通过探测器不同操作模式减少扫描时间，3K探测器生成高分辨率数据集，能检测更小缺陷。其扩大测量空间范围且减少占地，占地面积6.7㎡，可测高达870mm零部件，是面向未来的无损质量检测技术。
